Chipsmall X-Ray Inspection for Electronic Components Is Opening Now

X izpien ikuskapena da X izpien irudizko teknologia erabiltzea probaren objektuaren barne egitura lortzeko eta, ondoren, proba objektuaren barne informazioa behatu probaren objektua hautsi gabe.

Osagaien benetako epaiketa eta porrotaren azterketa egiteko erabiltzen da batez ere.Nazioartean aitortutako metodoa da Chip Authenticity Epaiketa eta Akatsak aztertzeko eta hautemateko.

X izpiak hautemateko teknologiak abiadura bizkorreko abiadura, suntsitzailea eta kostu baxua ditu Chip autentikotasunaren hauteman.

Txiparen porrota hautematea:

X izpien argazkien bidez, ikus itzazu txiparen barneko akatsak, zuritu, lehertzea, hutsuneak eta abar, eta lagundu txiparen akatsa epaitzen.

Chip Benetakotasun Judizioa:

Benetakotasuna epai daiteke markoa, aleak, berun alanbrea eta beste elementu batzuk konparatuz proba-piezaren X izpien diagraman, txip estandarrarekin;